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kSA MOS 原位薄膜應(yīng)力儀
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kSA MOS 原位薄膜應(yīng)力儀

產(chǎn)品品牌 k-Space
產(chǎn)地類別 進(jìn)口
廠商性質(zhì) 代理商
產(chǎn)品詳情
彩頁介紹

原位薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng)(kSA MOS Film Stress Measurement System):采用非接觸激光MOS技術(shù),不但可以對樣品表面應(yīng)力分布進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析,而且還可以進(jìn)行樣品表面二維應(yīng)力、曲率成像分析。您可自行定義選擇使用任意一個或者一組激光點(diǎn)進(jìn)行測量,并且這種設(shè)計(jì)始終保持所有陣列的激光光點(diǎn)始終在同一頻率運(yùn)動或掃描,從而有效的避免了外界振動對測試結(jié)果的影響,同時提高了測試的分辨率,適合各種材質(zhì)和厚度薄膜應(yīng)力分析。


典型用戶:Harvard University 2套,Stanford University,Johns Hopkins University,Brown University 2套,Karlsruhe Research Center,Max Planck Institute,西安交通大學(xué),中國計(jì)量科學(xué)院等、半導(dǎo)體和微電子制造商(如IBM.,Seagate Research Center,Phillips Semiconductor,NEC,Nissan ARC,Nichia Glass Corporation)等;

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薄膜應(yīng)力儀(kSA MOS 薄膜應(yīng)力測量儀):為獨(dú)立測量系統(tǒng),同樣采用多光束MOS技術(shù),詳細(xì)信息請與我們聯(lián)系。


設(shè)備名稱
原位薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng),原位薄膜應(yīng)力測試儀,原位薄膜應(yīng)力計(jì),薄膜應(yīng)力儀,kSA MOS Film Stress Tester, kSA MOS Film Stress Measurement System;


主要特點(diǎn)

     ? 自主**技術(shù):MOS 多光束傳感器技術(shù)(**號:US 7,391,523 B1);

     ? 單 Port(樣品正上方)和雙 Port(對稱窗口)系統(tǒng)設(shè)計(jì);

     ? 適合 MOCVD, MBE, Sputter,PLD、蒸發(fā)系統(tǒng)等各種真空薄膜沉積系統(tǒng)以及熱處理設(shè)備等,也可將設(shè)備搭建在光學(xué)平臺上,用于監(jiān)測電極材料反應(yīng)過程中的曲率/應(yīng)力變化情況;

     ? 薄膜應(yīng)力各向異性測試和分析功能;

     ? 實(shí)時光學(xué)反饋控制技術(shù),系統(tǒng)安裝時可設(shè)置多個測試點(diǎn);

     ? 免除了測量不受真空系統(tǒng)振動影響;

     ? 理想環(huán)境下曲率半徑分辨率 20km(依賴于腔體設(shè)計(jì));

     ? 應(yīng)力測量范圍幾十 kPa~100Gpa;

     ? 多基片測量功能;(選件)

     ? 光學(xué)常數(shù) n&k 測量;(選件)

     ? 基片旋轉(zhuǎn)追蹤測量功能;(選件)

     ? 生長速率和薄膜厚度測量。(選件)


測試功能

     ? 薄膜生長過程中,實(shí)時、原位薄膜曲率-時間/膜厚度曲線;實(shí)時、原位薄膜應(yīng)力-時間/膜厚度曲線;

     ? 鋰電池/燃料電池等電極材料在電解液中反應(yīng)時,實(shí)時、原位薄膜曲率-時間/膜厚度變化曲線;實(shí)時、原位薄膜應(yīng)力-時間/膜厚度曲線。


基本配置

     ? 12位單色CCD檢測系統(tǒng):分辨率 1360(H) x 1024(V), 6.45μm x 6.45μm pixel size;;曝光時間可控10 μs to 77.3 s sec

     ? 激光和光學(xué)系統(tǒng):激光波長660nm(可定制其他波長激光器),激光功率>70mW,恒電流運(yùn)行模式,穩(wěn)定性≤0.2%(8小時);帶溫控的激光控制器(出廠設(shè)定溫度25°C),溫度穩(wěn)定性<0.2°C;

     ? 自動光學(xué)追蹤系統(tǒng):當(dāng)進(jìn)行樣品測試時,用來追蹤伺服系統(tǒng)而檢測來自樣品表面反射光;

     ? 計(jì)算機(jī)、MOS數(shù)據(jù)采集和系統(tǒng)控制電路板;

     ? 測量分析軟件:數(shù)據(jù)采集,系統(tǒng)控制,自動激光光點(diǎn)檢測,實(shí)時曲率、曲率半徑、應(yīng)力強(qiáng)度、應(yīng)力數(shù)據(jù)采集和圖像顯示,分析功能多測試曲線對比分析、統(tǒng)計(jì)分析等,便捷的2D圖像顯示和調(diào)整功能,數(shù)據(jù)ASCII輸出。


實(shí)際應(yīng)用

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MOS_Product_Specs.pdf


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