AM0 &AM1.5G A+ Glass 雙燈太陽光模擬器/雙燈太陽能模擬器，由日本SAN-EI公司開發，并且已交付AIST、中國計量科學研究院、南京大學、南開大學等使用；該設備光譜不匹配性<±10%，有效光譜范圍300nm~1800nm。

主要應用

滿足各種太陽能電池的測試，例如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)、半導體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、染料敏化電池(DSSC)、有機導電高分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)、鈣鈦礦太陽能電池、疊層太陽能電池測試等；

主要特點
     ? 匹配AAA Class標準；
     ? AM1.5G圍：300nm~1800nm；
     ? 光譜不匹配度(IEC 60904-9 ): <±10%，class A+ ；
     ? 有效照射面積內光強不均勻度(IEC 60904-9 ): <2%，class A ；
     ? 光強穩定度(IEC 60904-9 ): 1%，class A ；
     ? 光源穩定輸出壽命：1000小時；
     ? 有效照射面積：50mm×50mm~300mm×300mm；
     ? 擴展AM0光譜；
     ? 光強調節范圍：±30%；

擴展功能
     ? 測試源表；
     ? 測試探針臺；
     ? 標準電池reference Cell；
     ? 多路控制器；
     ? 溫控測試臺；
     ? IV測試軟件:
     *基本測量功能： 完整 I-V 曲線測量， 完整 P-V 曲線測量，短路電流 Isc 測量，開路電壓 Voc 測量， 短路電流密度 Jsc 測量，峰值功率 Pmax 測量，峰值功率電流 Imp 測量，峰值功率電壓 Vmp 測量，效率測量，填充因子 FF 測量，串聯電阻 Rs 測量，并聯電阻 Rsh 測量；
     *Light光照條件下，太陽能電池IV 和PV曲線測量（包含Forward正向掃描和Reverse反向掃描測試功能）；
     *Light光照條件或Dark無光照條件下，太陽能電池I-V 和P-V曲線測量，I-t曲線和V-t曲線測量；
     *Bias偏壓或Steady State穩態測量功能（太陽能電池效率衰減測試功能）；
     *MPPT 追蹤測試功能（Pmax 功率點隨時間的變化）；
     *Repeatability 重復性測試功能。

另外，我公司為客戶提供其他類型太陽能電池測性能試設備：

     ? 太陽能電池光譜響應測試系統、IPCE測試系統、量子效率測試系統；

     ? 太陽能電池測量系統（光譜響應測試系統,IPCE測試系統,量子效率測試系統，I-V曲線測量系統），太陽能電池測試儀；

     ? 太陽能電池I-V曲線測量系統；

     ? I-V 數據采集系統；

     ? 大面積太陽能模擬器/太陽光模擬器/雙燈太陽光模擬器；

     ? 太陽能電池分選機；

     ? 太陽能電池I-V測試儀；

     ? 分光輻射度計，

     ? 參考電池/標準電池，

     ? 有機太陽能電池載流子遷移率測量系統；

     ? 鈣鈦礦太陽能電池載流子遷移率測量系統；