阻抗譜是研究太陽(yáng)能電池的一種常用的技術(shù)，簡(jiǎn)稱IS或EIS（電化學(xué)阻抗譜），或者也可稱為導(dǎo)納光譜（導(dǎo)納是阻抗的倒數(shù)）。通過(guò)施加一個(gè)不同頻率的小振幅交流正弦電勢(shì)波，測(cè)量交流電勢(shì)與電流信號(hào)的比值，來(lái)測(cè)量器件的阻抗。
在2000年Duffy et al介紹了電荷抽取（CE）技術(shù)，來(lái)測(cè)量染料敏化太陽(yáng)能電池中的電荷載流子密度。Shuttle et al將電荷提?。–E）技術(shù)頻繁用于有機(jī)太陽(yáng)能電池，來(lái)測(cè)量不同光強(qiáng)下的電荷載流子密度。它有時(shí)也被稱為光誘導(dǎo)電荷抽?。≒ICE）或時(shí)間分辨電荷提?。═RCE）。當(dāng)使用負(fù)向抽取電壓時(shí)，它被稱為偏置放大電荷提?。˙ACE）。
在瞬態(tài)光電流（TPC）測(cè)試中，測(cè)量恒定偏置電壓（也可設(shè)置為0V）下光伏器件由于光脈沖而產(chǎn)生的瞬態(tài)電流響應(yīng)過(guò)程。電流上升和衰減揭示了電荷載流子遷移率、陷阱和摻雜的信息。TPC通常在不同的偏置電壓、偏置光或光脈沖強(qiáng)度下進(jìn)行測(cè)試。
深能級(jí)瞬態(tài)光譜 (DLTS) 是一種用于研究半導(dǎo)體及光伏器件中電荷載流子陷阱的技術(shù)。用于提取有關(guān)陷阱密度和陷阱分布的重要信息。
在開(kāi)路條件下，太陽(yáng)能電池中外部電流為零。因此，電荷產(chǎn)生等于復(fù)合的電荷。開(kāi)路條件下通常適合于研究太陽(yáng)能電池中的載流子再?gòu)?fù)合和陷阱動(dòng)力學(xué)。開(kāi)路電壓衰減（OCVD，有時(shí)也稱為大信號(hào)瞬態(tài)光電壓TPV）測(cè)量揭示了器件的復(fù)合和并聯(lián)電阻的信息。在OCVD測(cè)量中，首先由光源LED或激光照射太陽(yáng)能電池，以產(chǎn)生電荷載流子，接著關(guān)閉光源并測(cè)量電壓隨時(shí)間的衰減。
線性增壓載流子抽取 (CELIV)技術(shù)目前備受科研工作者青睞，主要用于有機(jī)和鈣鈦礦太陽(yáng)能電池中電荷載流子遷移率測(cè)量與分析。
JV曲線測(cè)量是太陽(yáng)能電池的*常規(guī)的表征技術(shù)。太陽(yáng)能電池的短路電流 （Isc）、開(kāi)路電壓 （Voc）、填充因子 （FF）、**功率點(diǎn) （MPP） 和功率轉(zhuǎn)換效率等重要參數(shù)都是由JV曲線獲得。
